恒麟

EMMI测试系统又名光发射显微镜，是器件失效分析中漏电定位的重要工具。

EMMI测试系统又名光发射显微镜...

EMMI测试系统又名光发射显微镜，是器件失效分析中漏电定位的重要工具。

漏电定位手段有三种 1、侦测光子（EMMI) 2、激光刺激侦测阻抗变化(TIVA&VBA） 3、侦测热（Thermal）

漏电定位手段有三种 &#...

漏电定位手段有三种 1、侦测光子（EMMI) 2、激光刺激侦测阻...

自带桌面型减振平台系统，采用精密微孔可变阻尼技术，具有高性能空气减振及自动水平调节能力，大幅度提升ABT系统的环境适应能力和抗低频振动干扰能力，确保ABT系统的高精密度检测性能。适...

自带桌面型减振平台系统，采用精密...

自带桌面型减振平台系统，采用精密微孔可变阻尼技术，具有高性能空气减振及自动水平调节能力，大幅度提升A...

MFM系列多功能剪切力测试仪是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器，具有测试动作迅速、准确、适用面广的特点。适用于半导体IC封装测试、LED封装测试、光电子器件封装测...

MFM系列多功能剪切力测试仪是用...

MFM系列多功能剪切力测试仪是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器...

SU7000不仅可以在低加速电压下获得高画质图像，而且还可以同时接收多种信号。此外，它还具备大视野观察、In-Situ观察等FE-SEM的众多卓越性能。 SU7000是一台实现了信息获取...

SU7000不仅可以在低加速电压...

SU7000不仅可以在低加速电压下获得高画质图像，而且还可以同时接收多种信号。此外，它还具备大视野...

操作高效便捷创新的“EM Wizard”界面更加直观，仅需要“点击” 即可得到完美的图像。超前的电脑辅助技术将电镜的操作与控制提升到一个新水平。

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操作高效便捷创新的“EM Wizard”界面更加直观，仅需要“点击” 即可得到完美的图像...